欢迎光临 武汉中创联达科技有限公司!

服务热线027-87363326

产品中心

DIC系统(日本SEIKA品牌)

数字图像相关法(DIC)是一种非接触式的高精度位移、用于全场形状、变形、运动测量的方法,也是现代光测量力学领域内最有应用前景的测量方法。其应用研究方向,正朝着从常规材料到新型材料的测量,从弹性问题测量到强塑性问题的测量,从常温到高温的测量,从宏观测量到微观测量的趋势发展。DIC方法在上世纪80年代初被提出,经过30多年众多学者的研究,技术上已经非常成熟。这种方法又被称为数字散斑相关法,它直接处理的对象是具有一定灰度分布的数字图像(散斑图),通过对比材料或者结构表面在变形前后的散斑图运用相关算法得到

获取详细资料

Seika公司(中文名:西华数码影像公司)作为一家专业从事智能影像分析系统设计的高科技公司,在DIC系统的研发设计上已有多年经验,并被全球众多的科研单位及院校所认可(中国独家代理商:武汉中创联达科技有限公司)。我们可以为您提供运用数字图像关联法开发的应变解析软件系统。通过比较分析样本变形前后的图像,可以对变形和弯曲的量、方向、分布等进行解析。通过使用本系统,能够以非接触的方式获取物体变形弯曲的数据并将其分布可视化。对于高速测量、微米单位测量等特殊环境下的测量需要,我们可以在包括软件、相机、照明、专用光学仪器等各个方面提供综合性的解决方案。


微信图片_201910281331311.png
微信图片_201910281331312.png
微信图片_201910281331313.png



     






产品特点:

能够测量坐标,位移,速度,应变,形状和变形

●能够显示矢量图,轮廓图

●支持的图像格式:FIFF等

●易于使用的直观界面

●进程树结构

●丰富的后处理功能

●支持各种高速相机和高分辨率相机

●系统支持日/英双语

●对应各种情况(离线/在线分析,3D分析等)

应用: 

1.张力、压缩、扭转测试     2.破坏、冲击、掉落测试     3.热膨胀、热变形     4.显微镜下的微测试


       图例如下:

微信图片_20191028133130.png微信图片_20191028133131.png





客户服务热线

86-27-87363326

在线客服