DIC系统（日本SEIKA品牌）

数字图像相关法（DIC）是一种非接触式的高精度位移、用于全场形状、变形、运动测量的方法，也是现代光测量力学领域内最有应用前景的测量方法。其应用研究方向，正朝着从常规材料到新型材料的测量，从弹性问题测量到强塑性问题的测量，从常温到高温的测量，从宏观测量到微观测量的趋势发展。DIC方法在上世纪80年代初被提出，经过30多年众多学者的研究，技术上已经非常成熟。这种方法又被称为数字散斑相关法，它直接处理的对象是具有一定灰度分布的数字图像（散斑图），通过对比材料或者结构表面在变形前后的散斑图运用相关算法得到

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Seika公司（中文名：西华数码影像公司）作为一家专业从事智能影像分析系统设计的高科技公司，在DIC系统的研发设计上已有多年经验，并被全球众多的科研单位及院校所认可（中国独家代理商：武汉中创联达科技有限公司）。我们可以为您提供运用数字图像关联法开发的应变解析软件系统。通过比较分析样本变形前后的图像，可以对变形和弯曲的量、方向、分布等进行解析。通过使用本系统，能够以非接触的方式获取物体变形弯曲的数据并将其分布可视化。对于高速测量、微米单位测量等特殊环境下的测量需要，我们可以在包括软件、相机、照明、专用光学仪器等各个方面提供综合性的解决方案。

产品特点：

●能够测量坐标，位移，速度，应变，形状和变形

●能够显示矢量图，轮廓图

●支持的图像格式：FIFF等

●易于使用的直观界面

●进程树结构

●丰富的后处理功能

●支持各种高速相机和高分辨率相机

●系统支持日/英双语

●对应各种情况（离线/在线分析，3D分析等）

应用：

1.张力、压缩、扭转测试 2.破坏、冲击、掉落测试 3.热膨胀、热变形 4.显微镜下的微测试

图例如下：

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